GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

本标准规定了半导体集成电路 低电压差分信号（LVDS，low voltage differential signaling）电路（以下称为“器件”）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。

本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。

标准编号：GB/T 35007-2018

标准名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

发布日期：2018-03-15

实施日期：2018-08-01

起草单位：成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所

起草人员：陈雁、罗彬、郭超、王会影、李锟、蔡志刚、邬海忠、钟科

文件大小：625.44KB

文件格式：PDF

文件页数：36页

标准全文下载：

封面截图如下：