T/CNS 82-2022 宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法

本文件适用于评估宇航用SRAM的抗总剂量效应能力，抗辐射加固SRAM试验验证，SRAM总剂量效应研究。

标准编号：T/CNS 82-2022

标准名称：宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法

英文名称：Test method for total ionizing dose effect of static random-access memory in space application

发布部门：中国核学会

发布日期：2022-12-16

实施日期：2023-04-01

起草单位：中国科学院新疆理化技术研究所、中国科学院微小卫星创新研究院、中国航天科技集团有限公司第五研究院宇航物资保障事业部

起草人员：郑齐文、崔江维、余学峰、郭旗、李豫东、王信、张丹、陆妩、何承发、崔帅、李鹏伟

文件大小：534.05KB

文件格式：PDF

文件页数：15页

标准全文下载：

封面截图如下：