GJB 2649A-2011 军用电子元件失效率抽样方案和程序

本标准规定了按选定的置信度确定和维持失效率等级的抽样方案，以及失效率等级的鉴定和批一致性检验程序。

本标准规定的表格和数值以指数分布作依据，某些元件（如电容器）允许以威布尔分布作依据，但需经鉴定机构批准。电子元件的设计应基本相同，生产应基本连续，生产工艺控制应符合GJB 546《电子元器件质量保证大纲》的规定。

本标准适用于有失效率等级的军用电子元件产品规范中规定的失效率试验。

标准编号：GJB 2649A-2011

标准名称：军用电子元件失效率抽样方案和程序

英文名称：Failure rate sampling plans and procedures for military electronic component parts

发布部门：总装

发布日期：2011-12-25

实施日期：2012-04-01

起草单位：工业和信息化部电子第四研究所

起草人员：周俊、史信源、张玉芹、王宝友

文件格式：PDF

文件页数：33页

文件大小：2.29MB