SJ/T 11845.2-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第 2 部分：光电耦合器件

本文件规定了用于光电耦合器件可靠性评价的低频噪声参数、评价方法及方法应用。

标准编号：SJ/T 11845.2-2022

标准名称：基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第 2 部分：光电耦合器件

发布部门：中华人民共和国工业和信息化部

发布日期：2022-09-30

实施日期：2023-01-01

文件大小：1.88MB

文件格式：PDF

文件页数：6页