JJF 1236-2010 半导体管特性图示仪校准规范

本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的校准。

标准编号：JJF 1236-2010

标准名称：半导体管特性图示仪校准规范

英文名称：Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers

发布部门：国家质量监督检验检疫总局

发布日期：2010-01-05

实施日期：2010-04-05

起草单位：中国电子技术标准化研究所

起草人员：陈连启、于利红、刘冲

文件大小：492.60KB

文件格式：PDF

文件页数：25页