SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容

规定了半导体红外发射二极管总电容的测量原理图、测量步骤以及规定条件。

标准编号：SJ/T 2658.4-2015

标准名称：半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容

英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode-Part 4:Total capacitance

发布部门：中华人民共和国工业和信息化部

发布日期：2015-10-10

实施日期：2016-04-01

替代标准：SJ/T 2658.4-1986，

文件格式：PDF

文件页数：5页

文件大小：2.57MB