GB/T 28634-2012 微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析

本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜（SEM）的波谱仪（WDS），通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。

本标准适用于电子束垂直入射，要求定量分析的块状试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。

标准编号：GB/T 28634-2012

标准名称：微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析

英文名称：Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会

发布日期：2012-07-31

实施日期：2013-02-01

起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所

起草人员：曾毅、李香庭、吴伟

文件格式：PDF

文件页数：15页

文件大小：5.89MB