DB13/T 6033-2024 半导体器件低浓度氢效应试验方法

标准编号：DB13/T 6033-2024

标准名称：半导体器件低浓度氢效应试验方法

发布部门：河北省市场监督管理局

发布日期：2024-10-28

实施日期：2024-11-28

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司

文件大小：532.28KB

文件格式：PDF

文件页数：8页