GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法

本标准规定了微波介质基片复介电常数的带状线测试方法。

本标准适用于测试各种基片(如塑料、复合材料、陶瓷、硅酸盐和其他单晶体材料等)在微波频率下的复介电常数。测试频率范围:f=1～20GHz测试介电常数范围:ε＇=2～25测试损耗角正切范围:tanδ(e)=5×10^-^4～1×10^-^2

标准编号：GB/T 12636-1990

标准名称：微波介质基片复介电常数带状线测试方法

英文名称：Stripline test method for complexpermittivity of microwave dielectric substrates

发布部门：国家技术监督局

发布日期：1990-12-28

实施日期：1991-10-01

文件格式：PDF

文件页数：12页

文件大小：586.92KB