GB/T 25758.4-2010 无损检测 工业X射线系统焦点特性 第4部分:边缘方法

GB/T 25758的本部分规定了采用清晰边缘的射线照相底片,来校验管电压最高至500kV的工业X射线系统的大于0.5mm焦点尺寸的方法。

X射线图像的像质和分辨力很大程度上取决于焦点的特性。焦点成像质量基于目标平面的二维强度分布。

边缘方法对于在现场条件下校验焦点是特别有效,以发现焦点的变化。

本方法不能用于焦点尺寸的绝对测量。焦点尺寸的绝对测量方法见附录A。

标准编号:GB/T 25758.4-2010

标准名称:无损检测 工业X射线系统焦点特性 第4部分:边缘方法

英文名称:Non-destructive testing—Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing—Part 4:Edge method

发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

发布日期:2010-12-23

实施日期:2011-10-01

起草单位:上海泰司检测科技有限公司、上海英华无损检测技术有限公司、上海材料研究所、上海诚友实业有限公司、上海威诚邦达检测技术有限公司、通用电气传感检测科技(上海)有限公司、丹东奥龙射线仪器有限公司、山东轻工业学院

起草人员:孔凡琴、李博、章怡明、金宇飞、赵成、丁鸣华、李义彬、孙宝江

文件格式:PDF

文件页数:8页

文件大小:2.48MB

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