GB/T 48178-2026 集成电路电子设计自动化工具测试方法

本文件规定了集成电路电子设计自动化工具通用、工艺模型、模拟电路和光电电路、数字逻辑设计与验证、物理实现、晶圆制造和封装的测试要求,描述了相应的测试方法。

本文件适用于集成电路电子设计自动化工具的测试。

标准编号：GB/T 48178-2026

标准名称：集成电路电子设计自动化工具测试方法

英文名称：Testing method for integrated circuit electronic design automation tools

发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会

发布日期：2026-08-28

实施日期：2027-03-01

起草单位：中国电子技术标准化研究院、北京科技大学、上海电子设计自动化发展促进会、深圳市海思半导体有限公司、华芯巨数（杭州）微电子有限公司、上海概伦电子股份有限公司、上海立芯软件科技有限公司、芯华章科技股份有限公司、宁波大学、上海合见工业软件集团股份有限公司、杭州芯晓电子科技有限公司、上海合昕工业软件有限公司、深圳日观芯设自动化有限公司、上海启芯领航半导体有限公司、芯和半导体（上海）股份有限公司、上海思尔芯技术股份有限公司、上海逍遥光电科技有限公司、全芯智造技术股份有限公司、杭州广立微电子股份有限公司、东方晶源微电子科技（北京）股份有限公司、北京华大九天科技股份有限公司、浙江大学滨江研究院、奇捷科技（深圳）有限公司、青岛展诚科技有限公司、国能数智科技开发（北京）有限公司、杭州行芯科技有限公司、北京航空航天大学、北京汤谷软件技术有限公司

起草人员：郭楠、刘舒宁、姚海龙、郑云升、张旻、董哲、黄铮、钟乐、王金铭、乔薛鹏、陈鹤、储著飞、孙晓阳、谢卓、冯晓龙、林逸舟、高绪禹、王磊、蒙玉宝、沈文正、陈昇祐、孟晓东、朱亮、赵永林、潘钧儒、施伟杰、邹兰榕、陈弼梅、魏星、孙延辉、张凯、赵小磊、成元庆、刘丹

文件格式：PDF

文件页数：35页

文件大小：695.22 KB