GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定。

标准编号：GB/T 5594.5-1985

标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for volume resistivity

发布部门：国家标准局

发布日期：1985-11-27

实施日期：1986-12-01

文件格式：PDF

文件页数：8页

文件大小：218.01KB