GB/Z 276-2026 光电计算 光脉冲神经元性能测试方法

本文件给出了光脉冲神经元的测试系统和测试环境,描述了光脉冲神经元的兴奋性阈值、时域累积和不应期特性的测试方法。

本文件适用于采用半导体材料研制的光脉冲神经元(以下简称“神经元”)性能测试。

标准编号：GB/Z 276-2026

标准名称：光电计算 光脉冲神经元性能测试方法

英文名称：Optoelectronic computing—Performance testing method for photonic spiking neurons

发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会

发布日期：2026-09-24

实施日期：2026-09-24

起草单位：西安电子科技大学、之江实验室、北京航天计量测试技术研究所、华中科技大学、杭州爱杰光电科技有限公司、上海曦智科技股份有限公司、联合微电子中心有限责任公司、西南交通大学、苏州大学、电子科技大学、甬江实验室、南通奇波科技有限公司、中移（苏州）软件技术有限公司

起草人员：项水英、张萌、虞绍良、张雅慧、李振廷、冯宇祥、郭星星、王忠新、董建绩、周治平、于山山、李强、张力月、李念强、江宁、施跃春、田野、张强、黄于、方英俊、杨毅、郭良帅

文件格式：PDF

文件页数：11页

文件大小：672.50 KB