GB/T 35309-2017 用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程

本标准规定了用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的代位碳原子浓度、施主杂质浓度和受主杂质浓度的方法。

本标准适用于尺寸为600 μm～3 000 μm的颗粒状多晶硅，其他尺寸的颗粒状多晶硅可参照本标准执行。

标准编号：GB/T 35309-2017

标准名称：用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程

英文名称：Practice for evaluation of granular polysilicon by melter-zoner and spectroscopies

发布部门：国家质检总局 国家标准委

发布日期：2017-12-29

实施日期：2018-07-01

起草单位：江苏中能硅业科技发展有限公司、新特能源股份有限公司、天津市环欧半导体材料技术有限公司、青海黄河上游水电开发有限责任公司新能源分公司、洛阳中硅高科技有限公司

起草人员：王桃霞、刘晓霞、耿全荣、鲁文锋、柳德发、胡伟、邱艳梅、银波、由佰玲、秦榕、严大洲

文件大小：303.18KB

文件格式：PDF

文件页数：8页